第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-DRM101000 氮化鎵動(dòng)態(tài) RDON
適用于氮化鎵動(dòng)態(tài)RDON參數(shù)測(cè)試?？梢愿鶴T-4100，QT-8000搭配組成測(cè)試方案
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支持硬切/軟切 |
支持電阻/電感負(fù)載 |
硬切<1us |
多脈沖輸出 |
| 型號(hào) | QT-DRM101000 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
QT-DRM101000適用于氮化鎵動(dòng)態(tài)RDON參數(shù)測(cè)試?？梢愿鶴T-4100，QT-8000搭配組成測(cè)試方案 |
| 主要特點(diǎn) |
? 支持FT 或者CP，實(shí)驗(yàn)室，量產(chǎn)測(cè)試 ? 硬切和軟切，硬切可以滿足<1uS 測(cè)量RDON ? 輸出能力10A/1000V
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