第三代
        半導(dǎo)體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
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        分類
        QT-3107 LCR RG/CG 測試

        自研LCR數(shù)字電橋,支持Mosfet RG/CG測試,也可以用于測試二極管的電容測試,分辨率1fF



        支持雙DIE

        精度高抗干擾

        測試速度快

        擴展2KV偏置

        型號 QT-3107
        產(chǎn)品優(yōu)勢 采用數(shù)字電橋,抗干擾能力強,測試精度高;
        測試時間比模擬電橋快2-3倍;
        偏置電壓最高2KV;
        主要特點 測試分辨率1fF;
        自帶±100V偏置源;
        測試頻率:1MHz,擴展2MHz;
        輸出幅度:0.025-2V;




        Testing standards檢測標(biāo)準(zhǔn)

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